专注于低温型冷水机,防爆型冷水机等流体冷冻和流体温度控制领域设备的技术开发和生产
半导体低温冷水机应用场景及工艺作用
半导体制造全流程对温度稳定性要求极高,温度波动会直接造成晶圆良率下降、工艺参数漂移、设备部件热变形。低温冷水机主要为半导体设备提供恒定低温循环冷媒,带走工艺产热,控温精度普遍 ±0.1℃~±0.5℃,温度区间覆盖-80℃~+25℃,分为普通水冷、中低温、复叠极低温机型,介质常用去离子水、乙二醇水溶液、导热油等。
一、半导体低温冷水机应用场景与工艺作用
1. 刻蚀工艺(干法刻蚀、ICP/RIE 刻蚀)
应用点位:刻蚀腔腔体、射频电源、匹配器、静电卡盘 ESC、线圈冷却
温度范围:-20℃ ~ +20℃
工艺作用
带走射频放电产生的大量焦耳热,抑制腔体温度漂移;
静电卡盘精准控温,控制晶圆表面温度均匀性,保证刻蚀速率、刻蚀侧壁形貌一致;
避免聚合物副产物异常沉积在腔体内壁,减少腔体维护频次;
保护射频电源、匹配器,防止过热损坏。
2. PVD / CVD 薄膜沉积
应用点位:溅射靶材、反应腔体、磁控线圈、真空泵组、冷阱
温度范围:-40℃ ~ +15℃
工艺作用
冷却溅射靶材,靶材受热会变形、晶粒变化,直接影响薄膜厚度均匀度;
腔体控温稳定,保障薄膜成膜速率、应力、膜层致密性;
冷阱低温冷凝工艺废气内的有机物、硅化物,降低真空泵负载,保护真空机组。
3. 离子注入
应用点位:离子源、加速电极、扫描磁铁、晶圆夹具
温度范围:-10℃ ~ +25℃
工艺作用
离子束轰击晶圆产生大量热,低温冷却夹具,防止晶圆翘曲变形;
稳定离子源工作温度,保证束流稳定,掺杂浓度均匀可控;
避免电极高温老化,延长核心部件寿命。
4. 光刻工艺
应用点位:光刻机光源(EUV/DUV)、投影镜头、工件台、显影单元
温度范围:+10℃ ~ +23℃(高精度恒温,部分子系统低温)
工艺作用
镜头热胀冷缩会直接造成成像畸变,冷水机维持镜头极小温度波动,保障套刻精度;
光源模组散热,保证输出光功率稳定;
工件台控温,抑制晶圆热形变,降低光刻图形偏移。
光刻对控温精度要求高,多采用高精度恒温冷水机,不一定极低温度,但温度稳定性要求高。
5. 晶圆测试、探针台
应用点位:探针台温控卡盘、测试机功率模块
温度范围:-60℃ ~ +150℃(高低温循环)
工艺作用
模拟芯片低温工作环境,做可靠性、失效分析测试;
卡盘控温,保证探针接触电阻稳定,测试数据一致性;
带走测试大功率芯片产生的热量。
6. 真空系统、冷阱、分子泵
应用点位:高真空冷阱、分子泵、干泵
温度范围:-40℃ ~-80℃(复叠低温冷水机)
工艺作用
超低温冷阱冷凝水汽、油蒸气、工艺挥发物,提升腔体真空度;
降低进入分子泵的污染物,减少泵的维护,延长真空设备寿命。
7. 半导体封装
应用点位:键合机、固晶机、塑封、高低温可靠性测试
温度范围:-40℃ ~ +20℃
工艺作用
冷却超声键合头,控制键合温度,防止焊盘过热损伤;
IC 成品高低温环境可靠性验证。
二、温度-场景简表
工艺单元 | 典型控温区间 | 要求 |
干法刻蚀 | -20℃~+20℃ | 温度均匀,保证刻蚀形貌 |
PVD/CVD | -40℃~+15℃ | 靶材、腔体冷却,稳定成膜 |
离子注入 | -10℃~+25℃ | 防止晶圆翘曲,束流稳定 |
光刻机 | +10℃~+23℃ | 超高恒温精度,抑制镜头形变 |
探针测试 | -60℃~+150℃ | 高低温循环,芯片可靠性测试 |
真空冷阱 | -40℃~-80℃ | 冷凝杂质,提升真空度 |
半导体封装 | -40℃~+20℃ | 键合冷却、可靠性验证 |
总结
半导体低温冷水机不只是简单散热设备,属于工艺核心辅助设备:
高温端:带走设备与晶圆产热,避免热变形;
低温端:实现腔体、卡盘、冷阱的低温环境,控制化学反应速率、薄膜沉积、刻蚀行为;
精度端:极小温度波动,直接决定晶圆良率,是先进制程产线不可缺少的一环。
江苏康士捷工业控温设备 产品规格汇总
一、全系列温度机型覆盖
高温型:5℃~35℃
中温型:-5℃~-40℃
低温型:-40℃~-80℃
极低温型:-150℃~-80℃
冷热两用型:-150℃~+300℃
二、设备定制及功能配置
制冷量规格齐全,可适配不同工况负荷
可选特殊机型:防爆型、防腐型、撬装式、变频型
支持非标定制,按需适配现场安装及工艺要求
控温精度可选:温度稳定精度 ±0.1℃等
江苏康士捷机械设备有限公司
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